什么是無(wú)損檢測(cè)方法?無(wú)損檢測(cè)技術(shù)是一門(mén)理論綜合性強(qiáng)、實(shí)踐關(guān)注度高的學(xué)科。測(cè)厚儀涉及材料的物理性能、產(chǎn)品設(shè)計(jì)、制造工藝、斷裂力學(xué)和有限元計(jì)算。在化工、電子、電力、金屬等行業(yè)，為了達(dá)到各種材料的保護(hù)或裝飾效果，通常采用噴涂、有色金屬覆蓋、磷化、陽(yáng)極氧化等方法。涂層、涂層、涂層或化學(xué)生成膜的概念出現(xiàn)了，這被稱(chēng)為涂層。

　　涂層厚度測(cè)量已成為金屬加工行業(yè)用戶(hù)檢測(cè)成品質(zhì)量的最重要過(guò)程。這是產(chǎn)品達(dá)到高質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的必要手段。目前，涂層厚度一般根據(jù)國(guó)際統(tǒng)一標(biāo)準(zhǔn)確定。隨著材料物理性能研究的逐步深入，涂層無(wú)損檢測(cè)方法和儀器的選擇更加重要。

　　涂層無(wú)損檢測(cè)方法主要有楔切法、光切法、電解法、厚度差測(cè)量法、稱(chēng)重法、，X射線閃光法β射線反射法、電容法、磁測(cè)量法和渦流測(cè)量法。除了最后五種方法外，大多數(shù)方法都會(huì)損壞產(chǎn)品或產(chǎn)品表面，這就是破壞性檢測(cè)。測(cè)量方法繁瑣且緩慢，主要適用于采樣檢測(cè)。X射線和β射線反射法可用于非接觸無(wú)損檢測(cè)，但設(shè)備復(fù)雜、價(jià)格昂貴、測(cè)量范圍小。由于輻射源的原因，用戶(hù)必須遵守輻射防護(hù)規(guī)范，該規(guī)范通常用于測(cè)量每個(gè)金屬涂層的厚度。電容法一般只用于測(cè)試極薄導(dǎo)體的絕緣層厚度。

　　磁測(cè)量法和渦流測(cè)量法，隨著技術(shù)的不斷進(jìn)步，特別是近年來(lái)微處理器技術(shù)的引入，測(cè)厚儀朝著小型化、智能化、多功能化方向邁出了一大步，高精度和實(shí)用性。測(cè)量分辨率達(dá)到0.1μm，精度可達(dá)1%。它還具有應(yīng)用范圍廣、測(cè)量范圍廣、操作簡(jiǎn)單、價(jià)格低廉等特點(diǎn)。它是工業(yè)和科學(xué)研究中使用最廣泛的儀器。采用無(wú)損檢測(cè)方法測(cè)量厚度，不會(huì)損壞涂層或基材。測(cè)試速度快，可以經(jīng)濟(jì)地進(jìn)行大量測(cè)試工作。